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Title: Fundamentos de las técncias del muestreo estadístico
Authors: Abad Carrillo, Adela
Berumen Torres, Edmundo
Rascón Chávez, Octavio A.
Servín Andrade, Luis Alejandro
Villareal Aranda, Augusto
Keywords: aleatorio
muestra
estratificado
conglomerados
sistemático
Issue Date: Jun-1981
Abstract: Dentro de un plan de muestreo, cuando ya se ha establecido la característica o (características) a estimar, así como el nivel de la confianza y el grado de precisión requeridos, se debe decidir cual debe ser el tamaño de la muestra o número de elementos a seleccionar por el procedimiento de muestreo que vaya a emplearse, en forma tal que los resultados que se obtengan no sean en exceso costosos o imprecisos.
URI: http://132.248.52.100:8080/xmlui/handle/132.248.52.100/5695
Appears in Collections:Colección Desarrollo de Habilidades Directivas

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