https://www.ingenieria.unam.mx DSpace Repository

Browsing Colección Industria by Subject "Pensamiento crítico, argumentos, diagrama Ishikawa, diagrama Ishikawa (inverso), CS portafolio, datos continuos, datos discretos, AMEF, prueba de CHI2, prueba de proporciones, prueba de varianzas, prueba de Mann-Whitney, ANOVA, prueba de Kruskal-Wallis, regresión"

Browsing Colección Industria by Subject "Pensamiento crítico, argumentos, diagrama Ishikawa, diagrama Ishikawa (inverso), CS portafolio, datos continuos, datos discretos, AMEF, prueba de CHI2, prueba de proporciones, prueba de varianzas, prueba de Mann-Whitney, ANOVA, prueba de Kruskal-Wallis, regresión"

Sort by: Order: Results:

  • Caudillo, Jorge (2010-03)
    Objetivo: Al finalizar el módulo, el participante aplicará herramientas de estadística inferencial para el análisis de datos, identificará las causas-raíz de un problema y las validará por medio del uso de pruebas de hipótesis.

Search DSpace


Advanced Search

Browse

My Account