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Diplomado en Seis Sigma: VI (Lean Seis Sigma)
Caudillo Gutiérrez, Jorge
(
2006-10
)
Diplomado en Mapeo y Rediseño de Procesos: Módulo VI (Elaboración de Estándares e Identificadores de Procesos)
Caudillo Gutiérrez, Jorge
(
2006-08
)
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Caudillo Gutiérrez, Jorge (12)
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Análisis de varianza, igualdad de varianzas, promedios muestrales normalmente distribuidos, datos aleatorios, Gage R y R aceptable, ANOVA, ANOVA CONT, ANOVA DE MINITAB, ANOVA DE DOS VIAS, ANOVA DE DOS VIAS CONT, ANOVA de múltiple factores, ANOVA de múltiples factores CONT, ventana de sesión, DOE, DOE CONT (1)
Diseño de experimentos (1)
Elaboración de estándares e identificadores de procesos (1)
Fase de análisis, estrategia DMAIC, multi-vari chart, estratificar, five whys, five why´s & logic tree, diagrama causa efecto, diagrama de pescado, matriz causa-efecto, AMEF, número de prioridad de riesgos RPN (NRP), anotación RPN, hipótesis (1)
Gráficas de control (1)
Gráficas de control, fracción defectuosa, números defectuosos, atributos, área de oportunidad, variables, promedios, desviación estándar, lecturas individuales, rangos móviles, histograma, diagrama de Pareto, diagramas de dispersión (1)
Herramientas estadísticas para la calidad (1)
Lean management, objetivos, beneficios, pensamiento lean, aportaciones, 5´s, clasificar, ordenar, limpieza, estandarizar, disciplina, sistema de jalar, células de manufactura, controles visuales, kanban, producción nivelada (Heijunka), Poka Yoke, indicador visual (Andon), SMED, valve stream map (mapa de flujo de valor) (1)
Lean management, seis sigma, Ley de little, mapa de flujo de valor, mapeo, value stream mapping, lean manufacturing, pensamiento lean, despilfarro, 5´s, KANBAN, células de manufactura, control visual, Just in time, Jit, TPM, producción nivelada (Heijunka), verificación de procesos (Jidoka), dispositivos para prevenir errores (Poka Yoke), indicador visual (ANDON), cambio rápido de modelo (SMED) (1)
Lean seis sigma (1)
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Date Issued
2006 (5)
2007 (3)
2008 (2)
2009 (2)
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Yes (12)